二次離子質(zhì)譜儀，簡(jiǎn)稱(chēng)SIMS，是一種高靈敏度、高分辨率的表面分析技術(shù)。它可以實(shí)現(xiàn)對(duì)物質(zhì)分子結(jié)構(gòu)及組分的分析、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)、表面成分分析以及表面相互作用的研究。SIMS技術(shù)已經(jīng)成為了材料科學(xué)、能源、納米科學(xué)、化學(xué)及生命科學(xué)等領(lǐng)域中最重要的表面分析手段之一。那么，為什么要使用二次離子質(zhì)譜儀？下面將從以下幾個(gè)方面進(jìn)行分析：